Automatisierung Automatisierung Sensorik & Messtechnik
07.08.2025

Polarisation und Ellipsometrie: Bildgebung jenseits des Sichtbaren

Die Forschungsgruppe Prozesstechnik am Institut für Fertigungstechnik und Photonische Technologien der TU Wien hat ein echtzeitfähiges System zur Inline-Überwachung der Qualität von Schichten entwickelt und setzt dabei auf Polarisationskameras von SVS-Vistek.

Ein Experiment mit polarisiertem Licht zeigt Spannungsmuster in einer Kunststoffprobe (Symbolbild) (Bild: bykot - stock.adobe.com)

Die Forschungsgruppe Prozesstechnik am Institut für Fertigungstechnik und Photonische Technologien der TU Wien hat ein echtzeitfähiges System zur Inline-Überwachung der Qualität von Schichten entwickelt und setzt dabei auf Polarisationskameras von SVS-Vistek.

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Im Artikel erfahren Sie mehr zu:
  • Anwendungen von Polarisationssystemen, wie zum Beispiel zur Messung der Schichtdicke und -qualität bei PET-Flaschen, zur Untersuchung von Spannungszuständen in transparenten Materialien oder zur Blisterkontrolle
  • Grundlagen der noch jungen Ellipsometrie-Technologie und den Zusammenhang zwischen Polarisation und den zu messenden Größen, wie der Dicke von Beschichtungen
  • Polarisationskameras für den industriellen Einsatz
  • Herausforderungen und Zukunftspotenzial für industrielle Bildverarbeitung und Bildgebung „beyond the visible“
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